光谱测厚仪询问报价

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的**企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们专业的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名*通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪

一六仪器  X荧光光谱测厚仪

镀层分析X射线荧光光谱特点

     1.镀层分析快速、无损，对样品*任何处理。一般测试一个点只需要数10S-1分钟，分析精度高。

     2.可测试**薄的镀层。

     3.可测试多镀层，分析精度远远**其他测量方法。

     4.可分析合金镀层厚度。如果合金镀层成分稳定，选择合适的对比分析样品，就可以准确的分析出合金镀层的厚度。

     5.对于样品可进行连续多点测量，适合分析镀层的厚度分布情况，并可以对样品的复杂面进行测量。

     6.对分析的多镀层每层之间的材料，要求有明显的区别

     7.不可以测试**厚样品，普通金属镀层总厚度一般不**过40微米。

     8.可以对较小样品进行测试

     9.属于对比分析仪器，测试不同的镀层样品需要不同发镀层标样

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(CI)- 铀(U)   厚度分析范围:各种元素及**物

一次可同时分析:23层镀层,24种元素   厚度检出限:0.005um

选择Elite（一六仪器）X射线荧光镀层测厚仪理由：

   根据IPC规程，必须使用整块的标准片来校正仪器，对于多镀层的测量，目前大多数客户购买的测厚仪采用的是多种箔片叠加测量校正，比如测量PCB板上的Au/Pd/Ni/Cu,因为测量点很小，测量距离的变化对测量结果有较大影响，如果使用Au，Pd，Ni三种箔片叠加校正，校正的时候箔片之间是有空气，并且Pb元素与空气的频谱重叠，以上会对测量结果产生较大影响，Elite（一六仪器）测厚仪有电镀好的整块的Au/Pd/Ni/Base标准片，不需要几种箔片叠加校正，可以确保镀层测量的准确性。微聚焦X射线管配合比例接收能实现高计数率，可以进行高精度测量。

2、采用微聚焦X射线管，油槽式设计，工作时采用油冷，长期使用时寿命更长。微聚焦X射线管配合比例接收能实现高计数率，可以进行高精度测量。

3、Elite（一六仪器）WinFTM**软件，具有强大且界面友好、中英文切换，较多可同时测量23层镀层，24种元素，测量数据可直接以WORD格式或EXCEL格式输出、打印、保存。8、X射线荧光光谱仪中的能量色散仪是低分辨率光谱仪已是在线分析的选择仪器之一。采用基本参数法（FP），有内置频谱库，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行准确的分析和测量。

4、 Elite（一六仪器）针对PCB（印制电路板）线路板上的镀层厚度及分析而设计的X射线荧光测厚仪（XDLM-PCB200/PCB210系列）具有以下特点：1）工作台有手动和程序控制供客户选择，2）采用开槽式设计和配置加长型样品平台，用于检测大尺寸的线路板。数据报告：对测量的数据结果进行对比和分析，判断数据是否正常，若出现异常可进行多次测量排除偶然误差14。

江苏一六仪器  X射线荧光镀层测厚仪应用领域      

     集成电路是国民经济首要突破的行业，中国现代制造业的发展，集成电路是基础。如果保证电路板生产的质量，电镀检测重中之重！x射线荧光膜厚测厚仪为集成电路的发展，PCB线路板加工业的质量保驾**。价格一直是客户在购买时关心的问题，好质量和售后服务的产品在价格上面往往比较高，所以客户在选择产品时选择性价比高的就需要一定的了解，首先是品牌，其次是客户调查，售后服务等。采用基本参数法（FP），有内置频谱库，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行准确的分析和测量。x射线荧光膜厚测厚仪可用于电力行业高压开关柜所用的镀银件厚度测试，镀锡测试。也可以用于首饰类产品的镀银层测厚，PCB线路板的镀银厚度分析。 的详细信息x射线荧光膜厚测厚仪可用于电力行业高压开关柜所用的镀银件厚度测试，镀锡测试。也可以用于首饰类产品的镀银层测厚，PCB线路板的镀银厚度分析。

      x射线荧光膜厚测厚仪已经成为电力行业，PCB行业，贵金属首饰行业的镀层分析的常规手段，比传统的电解法测厚仪具有更快的测试速度和分析精度，也比切片法具有更快的分析效率。