膜厚仪的影响因素有哪些
1、基体金属厚度
每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度,测量就不受基体金属厚度的影响。
2、边缘效应
本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
3、曲率
试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此,在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
4、试件的变形
测量头会使软覆盖层试件变形,因此在这些试件上测出可靠的数据。
膜厚仪的影响因素有哪些
1、测量头的取向
测量头的放置方式对测量有影响。在测量中,电镀膜厚仪,应当使测量头与试样表面保持垂直。
以上就是关于膜厚仪的一些介绍,对你有帮助吗?其实任何一种设备仪器都会有影响误差,尤其对于比较精密的仪器,所有不当的操作都有可能给它带来很大的影响,提高专业素养是避免不当操作的关键.
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膜厚仪如何系统校准?
校准的方法、种类,这是新用户经常会遇到的问题。系统校准、零点校准还有两点校准其实都已经在说明书上写到了,用户只需仔细阅读就可以了。需要注意的是:在校准铁基时较1好是多测量几次以防止错误操作;系统校准的样片要按照从小到大的顺序进行。如果个别标准片丢失可以找与其数值相近的样片代替。。。。。