安徽fischer膜厚仪_一六仪器1

膜厚仪光学监1控是高精致镀膜的的首1选监1控方式，这是因为它能够更准确地把持膜层厚度(如果利用切当)。精1确度的改进源于很多因素，但较基础的起因是对光学厚度的监1控。对单波长光学监1控体系，是采用间接测控，结合先进光学监1控软件，有效提高光学反应对膜厚度变革灵敏度的实际跟措施来减少终1较误差，供应了反馈或传输的决定模式跟大范围的监测波长。特别适合于各种膜厚的镀膜监1控包括非规整膜监1控。

如果膜厚测试仪已经进行了适当的校准，所有的测量值将保持在一定的误差范围内；根据统计学的观点，fischer膜厚仪，一次读数是不可靠的。因此任何由膜厚测试仪显示的测量值都是五次“看不见”的测量的平均值。这五次测量是在几分之一秒的时间内由探头和仪器完成的。

膜厚测试仪测量时间的选择：测量时间越长稳定度越好，一般来说，单镀层不小于15秒，双镀层和合金比例测量时间不少于30秒钟，三镀层测量时间不少于45秒，镀液主离子浓度测量时间在30～60秒之间。