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膜厚测试仪波谱校准

     不关机状态下每日必做一次或每次关机3小时以上再次重开机必做，目的让仪器进行自我补偿调整。首先点击任务栏中的“波谱校准”，然后将波谱校准片放入仪器，将Cu-Ag合金部分移至十字线中间，镭射聚焦，测量（点击Go键）。待膜厚测试仪器自动完成每一步，红色STOP键会转变成绿色GO键后，将纯Ag部分移至十字线中间，镭射聚焦，测量（点击Go键），完成后出现“波谱校准成功”字样的对话框时，点击“确定”即可。若不成功，检查是否做错，或中途是否停止过，或有无移动过波谱片，此时需要重新完整再做一次波谱校准。

影响膜厚仪测量的的客观因素

应力的影响。在役设备、管道大部分有应力存在，固体材料的应力状况对声速有一定的影响，螺丝膜厚仪，当应力方向与传播方向一致时，若应力为压应力，则应力作用使工件弹性增加，声速加快；反之，若应力为拉应力，则声速减慢。当应力与波的传播方向不一至时，膜厚仪波动过程中质点振动轨迹受应力干扰，波的传播方向产生偏离。根据资料表明，一般应力增加，声速缓慢增加。