膜厚仪的正确校正及测量说明
1、打开膜厚仪探头盖。
2、膜厚仪的校正 ①取出校正片.将膜厚仪四角平行放在校正片上,拿起膜厚仪按左功能健至CAI,按OK,再在校准正片上连续平行测试5次后按OK健归零。 ②将二次校片放在校正片上连续平行测试5次后按OK键归零。 ③按功能键到O键,扫OK,再在校正片上连续测试5次后按OK键归零,再按OK键,加入二次校正片用膜厚仪测试5次.按OK键归零。 ④每周校。
3、膜厚仪的测量 ①取出被测物品及探头。 ②将被测物品平放于桌面,将探头和四角与被测物品进行直接平面接触,点击测量键读取数值。 ③依②的操作方法对被测物品的主次面进行平均三点测量。 ④将单面三点的数值进行换算,得出单面的平均膜厚值[ā=(a1+a2+a3)/3]。 ⑤将以上测量数值填入《出货检验报告》及《膜厚测试巡检报告》
4、膜厚仪设备停止。
影响膜厚仪测量的的客观因素
耦合剂对膜厚仪的影响。耦合剂是用来排除探头和被测物体之间的空气,使超声波能有效地穿入工件达到检测目的。如果选择种类或使用方法不当,将造成误差或耦合标志闪烁,菲希尔膜厚仪,无法测量。因根据使用情况选择合适的种类,当使用在光滑材料表面时,可以使用低粘度的耦合剂;当使用在粗糙表面、垂直表面及**表面时,应使用粘度高的耦合剂。高温工件应选用高温耦合剂。其次,耦合剂应适量使用,涂抹均匀,一般应将耦合剂涂在被测材料的表面,但当测量温度较高时,耦合剂应涂在探头上。