X荧光测厚仪|中国台湾测厚仪| 查看

常见几种测厚仪的工作原理是什么：

2、测厚仪原理--X射线测厚仪

     X射线测厚仪：此类测厚仪利用的是当X射线穿透被测材料时，X射线强度的变化与材料厚度相关联的特性，从而测定材料的厚度，天瑞测厚仪，是一种非接触式的动态计量仪器。

     3、测厚仪原理--超声波测厚仪

     超声波测厚仪：这种测厚仪是根据超声波脉冲反射的原理来对物体厚度进行测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲会发生反射而返回探头，中国台湾测厚仪，通过准确测量超声波在材料中传播的时间，来计算被测材料的厚度。

测厚仪分类：

1.涡流测厚仪当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时，XRAY测厚仪，由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流，此涡liu产生的磁场又反作用于探头线圈，使其阻抗发生变化，此变化量与探头线圈离金属表面的距离（即覆盖层的厚度）有关，X荧光测厚仪，因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。

2.同位素测厚仪利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。