膜厚仪-一六仪器-镀层膜厚仪

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的**企业。拥有先进的技术，优质的良将，能够应付各种涂镀层、膜层的检测难题欢迎来电咨询！

达克罗，电泳漆镀层检测分析仪 

技术参数

元素分析范围：氯（CI）-铀（U）

厚度分析范围：各种元素及**物

一次性同时分析：23层镀层，24种元素

厚度较di检出限：0.005um

较xiao测量面积:0.002m㎡

膜厚仪检测的方法

国内外已普遍按统一的国际标准测定涂镀层厚度，覆层无损检测的方法和仪器的选择随着材料物理性质研究方面的逐渐进步而更加至关重要。

有关覆层无损检测方法，主要有：楔切法、光截法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线莹光法、β射线反射法、电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中除了后五种外大多都要损坏产品或产品表面，系有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的**企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们专业的研发团队具备十年以上的从业经验，膜厚检测仪，经与海内外多名*通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、先进的解谱方法和EFP算法结合精准定位及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。

镀饰，涂层膜厚仪，首饰类镀层分析通用型测厚仪

仪器配置

微聚焦X射线装置

信号放大器

微型移动滑轨

十二元素片

标准片Ni/Fe 5um

为什么膜厚仪有时测量不准确?

强磁场的干扰。我们曾做过一个简单实验，当仪器在1万V左右的电磁场附近工作时，测量会受到严重的干扰。如果离电磁场非常近时还有可能会发生死机现象。

江苏一六仪器     X射线荧光镀层膜厚仪    稳定的多道脉冲分析采集系统、先进的解谱方法和EFP算法结合精准定位及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。广泛应用于电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子等制造领域。

膜厚仪

采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通膜厚仪的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪，镀层膜厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性，膜厚仪，则要求与基材的导磁率之差足够大（如钢上镀镍）。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时，仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头，测量感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。