一六仪器 专业测厚仪 多道脉冲分析采集,先进EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件,LED和照明,家用电器,测厚仪,通讯,汽车电子领域.EFP算法结合精准定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及**物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um较xiao测量面积0.002m㎡ 较深凹槽20mm以上
镀层厚度分析仪使用注意事项
1.仪器供电电压必须与仪器铭牌上的电压一致。仪器必须使用三线插头连到一个已接地的插座上。
2.镀层厚度分析仪为精密仪器,建议配备高精度的稳压电源。计算机和仪器应配备不间断电源(UPS)。
3.镀层厚度分析仪应特别注意与存在电磁的场合隔离开来。
4.仪器适合在10~40℃(50~104℉)的环境温度下操作使用,在0~50℃(32~122℉)的温度下存放。操作和存放的允许湿度范围在0~65%之间(非冷凝)。在操作过程中,环境温度和湿度应保持恒定。
5.仪器曝晒在阳光下时温度较易**过50℃。所以请不要在这样的环境下操作和存放仪器,以避免高温对仪器造成损害。
6.为避免短路,电解测厚仪,严禁仪器与液体直接接触。如果液体进入仪器,请立刻关闭仪器并在重新使用前请技术人员整体检查仪器。
7.镀层厚度分析仪不能用于酸性环境和易爆场合。
8.不要弄脏和刮擦元素片或调校标准片,测厚仪,否则会造成读数错误。
9.不要用任何机械或化学的方法清除元素片或调校标准片上的污物。如果必要的话,可以用一块不起毛的布轻轻擦除脏物。
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及**物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um
用转移法测量塑胶产品上涂层时注意事项:
由于对塑胶产品上涂层的测量,如使用超声波发测量时,经常因涂层与基材发生相溶而没有较好的声波反射面,从而导致测量失败或读值严重偏差。如使用切锲法,也多有使用不方便和读数困难的地方。所以目前便携式电子产品生产厂普遍使用转移法测量塑胶产品上涂层,先在产品上盖若干小条标准厚度的聚酯薄膜,再用纸基美纹胶压住两头,留出中间部分。将该产品放入喷涂线上正常喷涂、烘烤。
江苏一六仪器 X射线荧光镀层测厚仪
性能优势:
下照式设计:可以快速方便地定位对焦样品。
无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测,凹槽深度范围0-90mm。
微聚焦射线装置:可检测面积小于0.002mm2的样品,可测试各微小的部件。
jie shou 器:即使测试0.01mm2以下的样品,几秒钟也能达到稳定性。
EFP先进算法软件:多层多元素,甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。
统计计算功能平均值、标准偏差、相对标准偏差、max值、min值、数据变动范围、CP、数据编号、CPK、控制上限图、控制下限图数据分组、X-bar/R图表直方图数据库存储功能
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