超声波测厚仪-一六仪器(在线咨询)-测厚仪

江苏一六仪器 XTU系列 XTU-BL X荧光光谱仪

仪器规格：

   外形尺寸 ：550 mm x 660mm x 470 mm （长x宽x高）

   样品仓尺寸 ：500mm×660 mm ×215mm （长x宽x高）

   仪器重量 ：55kg

   供电电源 ：交流220±5V

   功率 ：330W

   环境温度：15℃-30℃

   环境相对湿度：<70%

EDX是借助于分析试样发出的元素特征X射线波长和强度实现的， 根据不同元素特征X射线波长的不同来测定试样所含的元素。通过对比不同元素谱线的强度可以测定试样中元素的含量。通常EDX结合电子显微镜使用，可以对样品进行微区成分分析。

常用的EDX探测器是硅渗锂探测器。当特征X射线光子进入硅渗锂探测器后便将硅原子电离，产生若干电子-空穴对，其数量与光子的能量成正比。利用偏压收集这些电子空穴对，超声波测厚仪，经过一系列转换器以后变成电压脉冲供给多脉冲高度分析器，测厚仪，并计数能谱中每个能带的脉冲数。

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一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(CI)- 铀(U)   厚度分析范围:各种元素及**物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素   厚度检出限:0.005um

江苏一六仪器   X荧光光谱测厚仪 优点    

X射线荧光能谱仪没有复杂的分光系统，结构简单。X射线激发源可用X射线发生器，也可用放射性同位素。能量色散用脉冲幅度分析器。探测器和记录等与X射线荧光光谱仪相同。

    X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。前者分辨率高，对轻、重元素测定的适应性广。对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的X射线探测的几何效率可提高2～3数量级，灵敏度高。可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差。

江苏一六仪器   X射线荧光光谱仪XTU/X-RAY系列 

技术参数

X射线装置：W靶微聚焦加强型射线管

准直器φ 0.05 mm  ；φ 0.1 mm；φ 0.2 mm；φ 0.5 mm； 准直器任意选择或者任意切换

较近测距光斑扩散度：9%

测量距离：具有距离补偿功能，可改变测量距离，能测量凹凸异型样品，变焦距离0-30mm(特殊要求可以升级到90mm)

样品观察：1/2.5彩色CCD，楼板测厚仪，变焦功能对焦方式高敏感镜头，手动对焦

放大倍数：光学38-46X，数字放大40-200倍

随机标准片：十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um 

其它附件：联想电脑一套、喷墨打印机、附件箱